20.04.2005 • Mikroskopie / Bildgebung

„Spectral Imaging" selektiv optimiert:

Bei Mehrfach-Fluoreszenzmarkierungen in der konfokalen Laser Scanning Mikroskopie stellen Anwendungen und Experimente oft die Aufgabe, gemeinsam benutzte Fluorochrome mit dicht beieinander liegende Emissionswellenlängen sauber voneinander zu trennen, bzw. gegenüber Hintergrundfluoreszenzen als signifikant „heraus zu filtern". Selbst mit qualitativ hochwertigen Filtern und Farbteilern lassen sich fast überlappende Emissions-Kanäle, wie z.B. von Alexa488 (max. 513 nm) und GFP (519 nm) nicht mehr getrennt darstellen. Um hier dennoch Bilder mit klar separierten Fluoreszenzsignalen zu erhalten, hat sich das „Spectral Imaging" entwickelt. Hierbei wird vermischtes Emissionslicht mit Prismen oder Gittern spektral zerlegt, mit Multichannel-Detektoren aufgenommen, und über sog. „unmixing"-Software als getrennte Fluoreszenzsignale dargestellt.
Wie meistens in der Fluoreszenzmikroskopie, kämpft man auch beim „Spectral Imaging" um möglichst hohe Photoneneffizienz für deutliche Fluoreszenzsignale bei akzeptablen Aufnahmezeiten.

Empfindlich und schnell: Nikon stellt mit dem „C1SI" ein Mikroskopsystem vor, das einen „Spectral-Scan" (512x512 pixel) über eine Beobachtungsbandbreite von 360 nm in 2 Sek. erlaubt. Zwei wesentliche Innovationen führen zu dieser deutlichen Verbesserung gegenüber herkömmlichen Systemen, die wegen geringerer Empfindlichkeit bis zu vier Mal langsamer sind: 1) Kompensation des Photonenverlusts auf Grund von Schwingungskomponenten des Emissionslichts durch Aufspaltung in zwei Strahlen vor der spektralen Zerlegung am Gitter 2) Der Multi-Channel-Detektor hat 32 Kanäle. Dieses „Detection Efficiency Enhancement System" (DEES) wird beim „C1SI" abgerundet durch Wahlmöglichkeit der spektralen Auflösung der Fluoreszenzbereiche mit verschiedenen Gittern bei 2,5, 5 oder 10 nm.
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