XploRa-Nano - erfolgreich TERS messen - garantiert

Kombination von Ramanmikroskopie und AFM

Vollständig integriertes System auf Basis von Rastersondenmikroskop und kompaktem Mikro-Ramanspektrometer

Nanospektroskopie - Lösungen für AFM-Raman, TERS und NSOM- Chemisches Imaging im Nanometerbereich

Die führende Raman-Technologie von HORIBA Scientific ist mit der Rastersondenmikroskopie (SPM) kombinierbar. Das System XploRa-Nano integriert ein Atomic Force Microscope (AFM), welches physikalische Probeninformationen auf der Nanometer-Skala liefern kann, einschließlich Topographie, Härte, Adhäsion, Reibung, Oberflächenpotential, elektrische und thermische Leitfähigkeit und Temperatur (unter vielen anderen), Nahfeldtechniken wie SNOM oder NSOM, Scanning Tunneling Microscopy (STM), Scherkraft- und Normalkraft-Bildgebungsmodi, Elektrochemie, alle zusammen mit der chemischen Information aus der Raman-Spektroskopie. Das Endergebnis ist eine umfassende Charakterisierung in einem vielseitigen Gerät für schnelle, simultane co-lokalisierte Messungen und Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS).

Einzigartige Features:

  • Infrarot-AFM-Diode bei 1300nm: keine optischen Interferenzen mit der Raman-Spektroskopie, für alle SPM-Modi einschließlich aller AFM-Modi.
  • Optischer Zugang mit Objektiv mit hoher Apertur (0,7NA) von oben und von der Seite - Einfacher Tip-Austausch: vollautomatische Ausrichtung und Justage.
  • Hochresonanz-Frequenz-Scanner: geringe Empfindlichkeit gegenüber akustischen Vibrationen. Keine Notwendigkeit für aktive Schwingungsisolation.
  • Kurze optische Wege und Closed-Loop-Objektiv-Scanner: bringt einen höheren Durchsatz und eine hervorragende Langzeitstabilität, was für erfolgreiches TERS-Imaging entscheidend ist.

AFM-Raman_brochure-LR2 (1.61 MB)

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HORIBA Jobin Yvon GmbH

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