Hochgeschwindigkeits-Oszilloskop

National Instruments stellt das Oszilloskop PXIe-5164 vor, das auf der offenen, modularen PXI-Architektur basiert und einen programmierbaren FPGA beinhaltet.

Es eignet sich insbesondere für das Messen hoher Spannungen mit einer hohen Genauigkeit bei Anwendungen aus den Bereichen Luft- und Raumfahrt, Halbleitertechnik sowie Forschung und Physik. Die PXI-Oszilloskope ermöglichen kürzere Prüfzeiten und eine höhere Kanaldichte und bieten durch die hohe Bandbreite, Auflösung und Eingangsspannung eine noch größere Flexibilität, so der Hersteller.

Mit dem Oszilloskop PXIe-5164 sollen sich nun auch Messungen durchführen lassen, die mit Stand-alone-Messgeräten bisher nicht möglich waren. So können bei der Messung von Spannungssignalen bis 100 Vpp mit bis zu 1 GS/s dank des 14-bit-A/D-Wandlers jetzt auch kleinere Signalbestandteile sichtbar gemacht werden, die normalerweise durch das Rauschen des Messgeräts überlagert werden.