22.04.2014 • Analytik • Laborgeräte • Messtechnik

RFA Desktop Spektrometer Kompetenzzentrum

Hitachi High-Technologies Europe GmbH hat seine Produktpalette von analytischen Instrumenten um den Bereich Röntgenfluoreszenzanalysatoren (RFA, XRF) erweitert. Neben UV / VIS / NIR Spektrometern, Spektrophotometern und HPLC Analysatoren werden seit Juli 2013 die Röntgenfluoreszenz Analysatoren und die Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenanalysatoren der früheren Seiko Instruments NanoTechnology aus einer Hand angeboten. Das Europäische Kompetenzzentrum für analytische Instrumente hat Hitachi-High-Technologies Europe im Büro Mannheim gebündelt. Hier steht für die Applikationsentwicklung ein umfangreiches Labor mit Vorführmöglichkeiten zur Verfügung.

Hitachi High-Technologies Europe bietet an: das EA8000VX, Spezialanalysator für die Charakterisierung und Analyse von Mikropartikeln, die EA-Reihe von EA1000A3 bis EA6000VX, universelle RFA Spektrometer für alle gängigen Messaufgaben sowie die FT Schichtdickenanalysatorfamilie vom einfachen Schichtdickenmess- und Analysegerät FT110 bis zum Mikro-Schichtdickenanalysator mit Röntgenoptik und Halbleiterdetektor FT9500X.

EA6000VX

  • universelles RFA Spektrometer zur Analyse und Schichtdickenmessung an kleinsten Flächen (200 x 200µm) mit optionaler Heliumspülung für den Nachweis leichter Elemente.
  • Hochauflösender Halbleiterdetektor (SDD)
  • Voluminöse Probenkammer mit großer Kammertüre
  • Hochgeschwindigkeits-Mappingfunktion zur Bestimmung von Elementverteilungen in inhomogenen Proben

 

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