11.08.2011 • Bildverarbeitung / Optische Messtechnik

NanoIR-Topografie und IR-Spektroskopie auf der Nanoskala

Jüngster Zuwachs im Applikationslabor von LOT-Oriel ist das nanoIR-System von Anasys. Das nanoIR bietet die einzigartige Möglichkeit, die hohe räumliche Auflösung eines AFM-Systems mit der chemischen Information eines IR-Spektrometers zu kombinieren. Konventionelle IR-Mikrospektroskopie weist eine beugungsbegrenzte laterale Auflösung im Bereich weniger Mikrometer auf. Das neuartige Konzept des nanoIR ermöglicht eine räumliche Auflösung bis ca. 100 nm.

Das Messprinzip beruht auf der lokalen thermischen Expansion einer Probe aufgrund der Absorption von IR-Strahlung. Diese Expansion wird sehr empfindlich mit einem AFM-Cantilever gemessen, dessen Auslenkung bzw. Oszillation bei unterschiedlichen Wellenlängen in einem IR-Spektrum resultiert.

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