Laser TIRF-Filterwürfel für Mikroskope

Zur Einkopplung der Laser bei der TIRF-Mikroskopie ist es von großem Vorteil, wenn die Laser-Strahlenteiler eine hohe Oberflächengüte aufweisen, da ansonsten Verzerrungen des Laserstrahlprofils auftreten. Technisch lassen sich diese Anforderungen hinsichtlich der Planität nur auf 2 mm dicken Strahlenteilern realisieren.

Herkömmliche Filterwürfel können nur 1 mm dicke Strahlenteiler fassen. AHF Analysentechnik (www.ahf.de) bietet in Zusammenarbeit mit Chroma Technology einen speziellen TIRF-Filterwürfel, in den eine Vielzahl von Laserstrahlenteilern spannungsfrei gehaltert werden können, derzeit lieferbar für Nikon TE/TI 2000 Mikroskope.