Schichtdickenmeßgerät

Zerstörungsfrei und berührungslos bestimmt man Dicke und Zusammensetzung von Beschichtungen mit dem neu entwickelten Röntgenfluoreszenzmessgerät Fischerscope X-RAY XDVM-P. Anspruchsvolle Anwendungen findet das System z.B. in Massengalvanikbetrieben mit hohem Teiledurchsatz, bis hin zur Kontrolle von High-Tech-Leiterplatten mit filigraner Oberfläche, die eine besonders präzise Positionierung des Messfleckes erfordern. Der Anwender legt das zu messende Teil ohne weitere Vorbereitungen auf den XY(Z)-Messtisch. Mit sehr hoher Geschwindigkeit fährt dieser von der Lade- in die Messposition. Rascher Teilewechsel ist eine besondere Stärke dieses Gerätes. Auf seinem Monitor hat der Anwender das Farbvideobild der Messstelle genau im Blick, gezoomt sogar bis zu 180-fach vergrößert.