Flächenhafte Topographie- und Ebenheitsmessung einfach und effizient

Die berührungsfreie und hochgenaue Messung von Ebenheiten, Höhenabständen und Parallelität großer Flächen und Strukturen sind ideale Anwendungen für das neue TMS-100 TopMap Metro.Lab Topographiemesssystem von Polytec. Es arbeitet nach dem Prinzip der Weißlicht-Interferometrie, verfügt über einen großen vertikalen Verfahrweg und eine Auflösung im Nanometerbereich. Als eine komplette Messstation ist das TopMap Metro.Lab ideal für die Messung großflächiger Topographien nahezu aller Oberflächen geeignet. Dazu überzeugt auch das Preis-/Leistungsverhältnis.

Die große z-Dynamik von 70 mm erlaubt die Messungen von Ebenheiten, Welligkeiten und Parallelitäten auch unter schwierigen Bedingungen, bspw. in Bohrungen oder auf Werkstücken mit hohen Stufen. Durch den telezentrischen Aufbau werden dabei Abschattierungen weitgehend vermieden. Ebenso können klassische Oberflächenparameter leicht erfasst werden.

Leistungsmerkmale des TMS-100 TopMap Metro.Lab

• Flächenhafte, zerstörungsfreie Messung der 3D-Topografie und daraus abgeleiteter Oberflächenparameter
• Berührungslos durch optisches, interferometrisches Messprinzip
• Messung auch an steilen Stufen durch telezentrische Optik
• Flexibel durch 70 mm Verfahrweg
• Smart-Surface-Scan-Technologie für ungünstige Kontrastverhältnisse
• Schnelle Messungen auch großer Flächen
• Großes Messfeld bis ca. 80 x 80 mm mit der erweiterten Version

Über Polytec

Die Polytec GmbH produziert weltweit führende High-Tech Lösungen für Automobilindustrie, Luft- und Raumfahrtindustrie, Mikrosystemtechnik, Schienenfahrzeugtechnik, Stahlindustrie, Maschinenbau und die wissenschaftliche Forschung und genießt in der Fachwelt einen hervorragenden Ruf für ihre laser-basierten Schwingungs- und Geschwindigkeits- & Längenmesssysteme.