08.07.2007 • Bildverarbeitung / Optische Messtechnik

2D-/3D-Parallel-Inspektion

Siemens A&D ergänzt sein Produktportfolio an Siplace-SMT-Bestücklösungen um das neue Inline-Inspektionssystem Siplace OS. Als weltweit erstes optisches Inspektionssystem kombiniert Siplace OS zweidimensionale mit dreidimensionaler Inspektion. Damit lassen sich Rüstzeiten in der Elektronikfertigung deutlich reduzieren: Auf Basis der 3D-Messung und der von Bauelemente-Varianten unabhängigen Gehäuseform-Bibliothek werden neue Produkte in kürzester Zeit eingefahren. Siplace OS ist an allen Positionen in der Bestücklinie einsetzbar (post paste, pre- und post reflow sowie im mixed mode) und sichert fehlerfreie, vollständig dokumentierte Qualität.

Diese Produktinformation
ist aus unserem Archiv!

Aktuelle Produkte finden Sie über die Suche ...
gradient arrows

Siemens Automation and Drives

Postfach 2348
90713 Fürth

Tel: +49 (0) 911/ 895- 7222
Fax: +49 (0) 911/ 895- 7223